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使用iEDX 150WT應對IPC4556 ENEPIG測試應用方案
使用善時儀器旗下的X射線熒光鍍層厚度分析儀，型號：iEDX-150WT，對印制板的浸鎳/鈀/金厚度進行測量，測量時間為60秒。iEDX-150WT鍍層厚度分析儀使用鉬靶X-Ray源，SDD探測器，分辨率為125±5eV。配合使用0.3mm準直器時，測量穩(wěn)定性與準確性小于5%
넶968 2019-08-13 -
使用iEDX 150WT應對IPC4554浸錫鍍層測試應用方案
IPC發(fā)布的IPC-4554印制板浸錫規(guī)范（以下簡稱規(guī)范），旨在幫助印制板制造商在PCB生產過程中改進工藝環(huán)節(jié)，提升產品可靠性。在規(guī)范中，IPC詳細的描述每種類型的金屬鍍層表面適合的厚度，包括如何使用XRF分析儀準確測量厚度，且包含應滿足XRF分析儀準確測量所需的條件。
넶1014 2019-08-13 -
使用iEDX 150WT應對IPC4553浸銀鍍層測試應用方案
IPC發(fā)布的IPC-4553A印制板浸銀規(guī)范（以下簡稱規(guī)范），旨在幫助印制板制造商在PCB生產過程中改進工藝環(huán)節(jié)，提升產品可靠性。在規(guī)范中，IPC詳細的描述每種類型的金屬鍍層表面適合的厚度，包括如何使用XRF分析儀準確測量厚度，且包含應滿足XRF分析儀準確測量所需的條件。
넶794 2019-08-09 -
使用iEDX 150WT應對IPC4552A化鎳浸金鍍層測試應用方案
使用善時儀器旗下的X射線熒光鍍層厚度分析儀，型號：iEDX-150WT，對印制板的浸鎳/金厚度進行測量，測量時間分別為5、15、30、60秒，測試次數為30次。iEDX-150WT鍍層測厚儀使用鉬靶X-Ray源，SDD探測器，分辨率為125±5eV。配合使用0.3mm準直器時，測量穩(wěn)定性與準確性小于5%。因為其高分辨率的特性，iEDX-150WT不需要額外的濾波器去除干擾，測量結果更接近于真實值。
넶827 2019-08-09
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